我們都知道，三坐標(biāo)技術(shù)近年發(fā)展迅速，然后在這樣的科技高速發(fā)展的條件下，必然出現(xiàn)一些不如意的測量產(chǎn)品。對于三坐標(biāo)測量機這種高精度的測量儀器，準(zhǔn)確度就是判斷其好壞的基本因素。如何評定三坐標(biāo)測量機的標(biāo)準(zhǔn)是否合格呢？下面是關(guān)于三坐標(biāo)測量機的精度評定標(biāo)準(zhǔn)提供參考。
 
    — di1部分：詞匯;
    — 第2部分：測量線性尺寸的坐標(biāo)測量機;
    — 第3部分：配置轉(zhuǎn)臺軸線為第四軸的坐標(biāo)測量機;
    — 第4部分：掃描測量型坐標(biāo)測量機;
    — 第5部分：多探針探測系統(tǒng)的坐標(biāo)測量機;
    — 第6部分：計算高斯輔助要素的誤差評定。
    主要包含三個主要參數(shù)：長度測量允許示值誤差(MPEE)、允許探測誤差(MPEP);對于掃描測量，采用允許掃描探測誤差(MPETHP) 。
    在進(jìn)行測量機的采購之前，用戶需要熟悉有關(guān)測量機的驗收標(biāo)準(zhǔn)。
    該標(biāo)準(zhǔn)的部分定義了所有與坐標(biāo)測量機相關(guān)的詞匯定義。例如："探測系統(tǒng)" 或"標(biāo)準(zhǔn)球"，在這兒，我們就不再細(xì)述。
    
    在測量空間的任意7種不同的方位，測量一組5種尺寸的量塊，每種量塊長度分別測量3次所有測量結(jié)果要在規(guī)定的MPEE 值范圍內(nèi)。
    允許探測誤差(MPEP)：
    25點測量精密標(biāo)準(zhǔn)球，探測點分布均勻。允許探測誤差MPEP 值為所有測量半徑的值。
    對于配備了轉(zhuǎn)臺的測量機來說，測量機的測量誤差在這部分進(jìn)行了定義。主要包含三個指標(biāo)：徑向四軸誤差(FR)、切向四軸誤差(FT)、軸向四軸誤差(FA)。
    這個部分適用于具有連續(xù)掃描功能的坐標(biāo)測量機。它描述了在掃描模式下的測量誤差。
    大多數(shù)測量機制造商定義了"在THP 情況下的空間掃描探測誤差"。在THP 之外，標(biāo)準(zhǔn)還定義了在THN、TLP 和TLN 情況下的掃描探測誤差。